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SCS100全功能型太陽能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)
全功能型太陽能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)?系統(tǒng)功能
適用電池：全系列太陽能電池
光譜范圍：300-1100nm，可擴(kuò)展至1700nm
可測(cè)量參數(shù)：光譜響應(yīng)度、外量子效率、光子電子轉(zhuǎn)換效率、內(nèi)量子效率、反射率、透射率、積分短路電流密度、光束誘導(dǎo)電流、量子效率制圖、反射率制圖、光束誘導(dǎo)電流制圖
可測(cè)樣品尺寸：156mmX156mm
可測(cè)樣品模式：交、直流測(cè)試法、交、直流偏置光測(cè)試法
全功能型太陽能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)特點(diǎn)
1. 全光譜太陽光模擬，雙光源切換可選，高光強(qiáng)穩(wěn)定性
系統(tǒng)采用符合IEC60904 標(biāo)準(zhǔn)的雙光源配置，采用氙燈和溴鎢燈來覆蓋太陽光譜的整個(gè)范圍。無論是氙燈還是溴鎢燈，都可以提供超高的光強(qiáng)穩(wěn)定性，從而保證系統(tǒng)測(cè)試結(jié)果的高重復(fù)性。當(dāng)不同的波段光譜測(cè)量時(shí)，選擇合適的光源波長與相匹配的標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器，可以zui大限度的優(yōu)化太陽能電池量子效率的測(cè)試結(jié)果。
1000s 的持續(xù)光強(qiáng)測(cè)試與局部放大圖
測(cè)試光源：氙燈或溴鎢燈; 測(cè)試時(shí)間：1000s; 光源時(shí)間不穩(wěn)定度：<0.8%
2. 高重復(fù)性測(cè)試結(jié)果
系統(tǒng)從光源的穩(wěn)定性、單色儀的波長準(zhǔn)確性與重復(fù)性、*的光路設(shè)計(jì)、樣品的加持、數(shù)據(jù)的采集方式上確保測(cè)試結(jié)果的高重復(fù)性。
5 次每次間隔1 小時(shí)的測(cè)試結(jié)果與全波段重復(fù)性測(cè)試
3. 窗口化軟件設(shè)計(jì)
在系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)中，將實(shí)用的儀器控制部分匯總到一個(gè)界面，將實(shí)用的儀器參數(shù)設(shè)置部分匯總到另一個(gè)界面，從而zui大限度的將控制操作簡(jiǎn)化，實(shí)現(xiàn)一鍵運(yùn)行。
儀器參數(shù)設(shè)置可以按照不同樣品的測(cè)試需求保存為獨(dú)立的配置文件并導(dǎo)出，從而實(shí)現(xiàn)快速還原與測(cè)試的功能，隨時(shí)調(diào)出原有保留的參數(shù)設(shè)置。同樣配置的不同系統(tǒng)之間也可以統(tǒng)一相互調(diào)用。
系統(tǒng)軟件可以準(zhǔn)確得到理論積分電流密度值，并按照需求保存原始數(shù)據(jù)，支ASCII、Excel、XML 等多種格式數(shù)據(jù)導(dǎo)出。以便使用主流數(shù)據(jù)處理軟件調(diào)用，方便后續(xù)數(shù)據(jù)處理與分析。
4. 快速M(fèi)apping功能
快速M(fèi)apping 功能包括：
1）量子效率Mapping 功能
2）反射率Mapping 功能
3）光束誘導(dǎo)電流（LBIC）功能
該功能針對(duì)100mmX100mm 以上的較大面積的成品太陽能電池片，用戶可以從Mapping 功能獲得的數(shù)據(jù)中得到關(guān)于電池片的少子擴(kuò)散情況、電池片缺陷分布等信息。缺陷分布等信息
上圖顯示6 寸單晶硅電池IQE mapping，樣品右上角IQE 數(shù)值明顯低于其他區(qū)域，因?yàn)槟抢镉腥庋蹮o法直接觀察到的缺陷
上圖顯示單晶硅電池的反射率mapping，均勻度明顯不好，這顯示出酸洗過程中酸液有殘留，影響了整個(gè)電池的反射率均勻性
上述Mapping 數(shù)據(jù)是在同一個(gè)電池片上用400nm、650nm 和950nm 三個(gè)波長做QE(LBIC) 掃描得到的。650nm 和950nm 的掃描數(shù)據(jù)顯示電池具有良好的均勻性，但400nm 掃描數(shù)據(jù)上，我們發(fā)現(xiàn)電池邊緣有不均勻區(qū)域。
全功能型太陽能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)不同的測(cè)試波長對(duì)樣品的穿透深度不同。藍(lán)光波長短，穿透深度淺，因此很容易將樣品制備過程中產(chǎn)生的表面裂痕等問題反映出來； 近紅外光波長相對(duì)較長，穿透深度更深，更加適用于擴(kuò)散長度的計(jì)算，從而能反映樣品材料內(nèi)部的缺陷等問題。
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